J. R. Berrendero Díaz, E. Jerez López, J. L. Torrecilla Noguerales

We study a functional classification problem in which the goal is to determine whether an observed function arises from a Gaussian model or from the same model contaminated with noise. We derive the optimal (Bayes) rule and present several useful formulations for relevant scenarios. We also allow the noise‑generating process to have a nonzero mean function, which extends existing results for homoscedastic Gaussian functional data with non‑stochastic trends and enables the derivation of new rules for detecting stochastic trends. Finally, we propose an estimator of the optimal rule based on training samples and evaluate its performance using both simulated and real data.

Palabras clave: Supervised classification functional data stochastic trend Gaussian process

Programado
GT Análisis de Datos Funcionales II
4 de septiembre de 2026  11:10
Aula 30

Otros trabajos en la misma sesión

M. D. Ruiz-Medina, A. E. Madrid, J. M. Angulo, A. Torres-Signes

A. Nieto Reyes, Á. Page

H. Ortiz, C. Acal, F. Fortuna, A. Naccarato, A. M. Aguilera del Pino


Política de cookies

Usamos cookies solamente para poder idenfiticarte y autenticarte dentro del sitio web. Son necesarias para el correcto funcionamiento del mismo y por tanto no pueden ser desactivadas. Si continúas navegando estás dando tu consentimiento para su aceptación, así como la de nuestra Política de Privacidad.

Adicionalmente, utilizamos Google Analytics para analizar el tráfico del sitio web. Ellos almacenan cookies también, y puedes aceptarlas o rechazarlas en los botones de más abajo.

Aquí puedes ver más detalles de nuestra Política de Cookies y nuestra Política de Privacidad.