Robust Inference for Step-Stress Accelerated Life Tests under Interval Censoring

M. Jaenada Malagón

Muchos productos modernos, como dispositivos electrónicos, baterías o bombillas, cuentan con una vida útil prolongada. Esta durabilidad dificulta el análisis estadístico de su fiabilidad, ya que, bajo condiciones normales de uso, es necesario un periodo de tiempo extenso para observar un número suficiente de fallos que permita inferir la distribución del tiempo de vida. Como alternativa, se emplean en la industria ensayos de vida acelerada, en los que se identifican factores potenciales de degradación y se somete a los productos a niveles elevados de estos factores. En esta charla se presentan métodos inferenciales robustos basados en la divergencia de densidad de potencias, incluso en presencia de datos atípicos. A través de estudios de simulación y ejemplos prácticos, se muestra que los estimadores robustos mantienen su estabilidad frente a la contaminación de los datos, lo que permite realizar análisis de fiabilidad más precisos y asegurar estimaciones más fiables.

Palabras clave: Ensayos de Vida Acelerada; Fiabilidad; Robustez

Sesión premio Ramiro Melendreras
2 de septiembre de 2026  17:40
Aula B

J. Baz González

J. Castillo-Mateo

J. Ramirez Ayerbe